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       在電子信息化社會中，電子技術和微電子技術是最為基礎的技術支撐。電子技術廣泛應用于國民經(jīng)濟的各個領域，是信息社會的重要基石。合適且優(yōu)秀的電子產(chǎn)品不僅僅是性能出類拔萃，耐用、使用壽命長也是對電子產(chǎn)品的另外一項重要的考核指標。對電子與微電子材料的選材與設計、并進行力學測試分析，關系著電子與微電子產(chǎn)品設計的發(fā)展。

        凱爾測控針對電子/微電子材料可提供：靜態(tài)拉伸/壓縮強度試驗、動態(tài)疲勞使用壽命試驗、三點彎壓縮試驗、四點彎壓縮試驗、平板拉伸試驗、動/靜態(tài)扭轉(zhuǎn)試驗、側(cè)向力剪切試驗、3維DIC樣品變形試驗、2維引伸計應變測量/云圖繪制、高低溫環(huán)境下的材料性能變化。


推薦產(chǎn)品：大型原位雙軸力學試驗系統(tǒng)

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  • 試驗案例

三維DIC觀測高溫環(huán)境下的電路板拉伸變形


       利用三維DIC軟件與高溫環(huán)境箱進行連用，搭配三維計算軟件，對試樣加熱過程中的結(jié)構(gòu)變化進行實時拍攝，經(jīng)過計算生成三維模型，可計算出與生成模型相對應的樣品位置的各向應變與各向位移。


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